Concurso:
IBGE
Disciplina:
Engenharia Cartográfica e Cartografia
A capacidade de modelar e solucionar problemas em SIG's é muito valorizada devido às potencialidades de integração e análise de dados espaciais e estatísticos, e de geração de produtos diferenciados, entre outros. Entre os requisitos que podem viabilizar ou inviabilizar projetos, encontra-se: