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Os materiais semicondutores são de grande importância para a eletrônica moderna. Em particular, o sucesso dos semicondutores intrínseco se deve a uma propriedade elétrica que é controlada de forma apropriada em laboratório pela adição de impurezas. Que propriedade é essa?
Dadas as afirmativas relacionadas com a natureza da luz e suas características de propagação, I. No processo de polarização por reflexão numa interface arvidro, a luz natural será totalmente polarizada, com o vetor campo elétrico perpendicular ao plano de incidência, desde que o ângulo de incidência seja igual ao ângulo de Brewster. II. Um feixe luminoso está sujeito ao fenômeno da reflexão interna total quando incide sobre a superfície de separação de um meio com índice de refração menor para outro com índice de refração maior. III. A luz branca será decomposta em suas componentes monocromáticas quando atravessar uma interface ar-vidro, tendo a componente vermelha o ângulo de refração maior do que a componente azul. IV. O princípio de Huygens é um método de análise da óptica geométrica que é usado para explicar o comportamento da luz, como a reflexão e a refração, ao se propagar em diversos meios.
verifica-se que estão corretas apenas
verifica-se que estão corretas apenas
O processo básico para gravação de um holograma em um meio material requer a interação de ondas esféricas espalhadas pelo objeto com ondas planas oriundas de uma fonte coerente. Uma vez registrado o holograma, sua visualização exige um procedimento chamado de processo de reconstrução que envolve essencialmente o fenômeno de
O que limita a resolução espacial de um microscópio é a natureza ondulatória da luz causando efeito de difração. Isso limita a região espectral na microscopia tradicional para uma resolução de 200-300 nm, no melhor dos casos, com a exceção de sistemas de fotolitografia utilizando luz ultravioleta no vácuo a que chega a 100 nm de resolução. Atualmente, para o limite da nanotecnologia, desenvolveu-se a técnica de microscopia óptica de campo próximo que quebra o limite de resolução de campo distante explorando as propriedades de ondas evanescentes. Em ordem de grandeza comparada com o comprimento de onda da luz incidente, pode-se definir os limites para a difração de campo próximo (difração de Fresnel) e a de campo distante (difração de Fraunhofer) para diversas aplicações. Considerando uma fonte de radiação no infinito, qual é a menor distância entre uma fenda única com abertura de 0,50 mm e o anteparo de formação de imagens para uma radiação de comprimento de onda de 500 nm poder ser tratada como campo distante (difração de Fraunhofer)?
Quando um experimento de difração de luz em uma fenda é montado em laboratório, as posições relativas da fonte de luz, do obstáculo e do anteparo são importantes na definição do tipo de abordagem a ser empregada na análise das medidas, por exemplo, se é mais pertinente utilizar a difração de Fresnel ou a difração de Fraunhofer. Quando a abordagem da difração de Fresnel é a mais adequada, significa que os raios que emanam da fenda
